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可靠性測試中HALT實驗與HASS實驗的區(qū)別

點擊次數(shù):701 更新時間:2024-03-07

什么是HALT試驗?

        HALT(Highly Accelerated Life Test)的全稱是高加速壽命試驗。HALT是一種通過施加逐級遞增的環(huán)境應力或工作載荷,來加速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱點的試驗方法。主要應用于產(chǎn)品開發(fā)階段,它能以較短的時間促使產(chǎn)品的設計和工藝缺陷暴露出來,從而為我們做設計改進,提升產(chǎn)品可靠性提供依據(jù)。 

HALT是美國Hobbs最先提出并持續(xù)進行完善,主要目的是通過增加被測物的極限值,進而增加其穩(wěn)健性及可靠性。 

        HALT按臺階方式施加應力,能夠盡快發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、工作極限及破壞極限。其加于產(chǎn)品的應力有振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。利用該試驗可迅速找出產(chǎn)品設計及制造的缺陷、改善設計缺陷、增加產(chǎn)品可靠性并縮短其上市周期,同時還可改進設計、積累產(chǎn)品可靠性基礎數(shù)據(jù),為后續(xù)的產(chǎn)品研發(fā)提供重要依據(jù)。

HALT 的主要測試功能如下: 

        利用高環(huán)境應力將產(chǎn)品設計缺陷激發(fā)出來,并加以改善; 

        了解產(chǎn)品的設計能力及失效模式; 

        作為高應力篩選及稽核規(guī)格制定的參考; 

        快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵; 

        增加產(chǎn)品的可靠性,減少維修成本; 

        建立產(chǎn)品設計能力數(shù)據(jù)庫,為研發(fā)提供依據(jù)并可縮短設計制造周期。

        HALT應用于產(chǎn)品的研發(fā)階段,能夠及早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。其所施加的應力要遠遠高于產(chǎn)品在正常運輸、貯藏、使用時的應力。

HALT包含的如下內(nèi)容

        1) 逐步施加應力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障; 

        2)  采取臨時措施,修正產(chǎn)品的失效或故障; 

        3) 繼續(xù)逐步施加應力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障,并再次加以修正; 

        4)  重復以上應力-失效-修正的步驟;找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。

什么是HASS試驗?

        HASS (High Accelerated StressScreen)的全稱是高加速應力篩選試驗。HASS是產(chǎn)品通過HALT得出工作極限或破壞極限值后在生產(chǎn)階段所做的高加速應力篩選,一般要求100%的產(chǎn)品參加篩選。

        HASS目的是為了減少產(chǎn)品的潛在缺陷,并盡量在產(chǎn)品出廠前消除這些缺陷。HASS主要是通過加速應力方式以期在短時間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品,縮短產(chǎn)品改進周期。

        HASS應用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段,以確保所有在HALT中找到的改進措施能夠得已實施。HASS還能夠確保不會由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動而引入新的缺陷。

HASS包含如下內(nèi)容

        1) 進行預篩選,剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷; 

        2) 進行探測篩選,找出明顯缺陷; 

        3) 故障分析,改進措施。

HASS 和 HALT 的區(qū)別

        1、階段不一樣:HALT是開發(fā)階段,HASS是生產(chǎn)早期階段,或者是生產(chǎn)階段。

        2、目的不同:HALT試驗是一種摸底試驗,目的是發(fā)現(xiàn)設計的短板并改進,HASS是一種通過性試驗,是量產(chǎn)質(zhì)量控制。

        3、強度不一樣:HALT試驗可能會造成產(chǎn)品的損傷,而HASS試驗不應該造成產(chǎn)品的損傷,因為HASS試驗之后,產(chǎn)品是需要進行售賣的。而HALT試驗之后的產(chǎn)品是嚴禁再出貨的。 

        4、試驗方法不同:HALT試驗是加速應力,直至產(chǎn)品失效;HASS試驗是多次重復但是無產(chǎn)品磨損,逐步修正,完成試驗的輪廓的過程。

        5、HALT試驗和HASS試驗對失效率優(yōu)化,處于器件生命周期的不同階段。