高加速壽命試驗 HALT/HASS測試

服務(wù)內(nèi)容

高加速壽命試驗測試流程

一、樣品信息背景調(diào)查，試驗前應(yīng)對樣品進(jìn)行充分的分析,評估可能發(fā)生失效或故障的元部件、連接措施、焊接工藝等。宜提前準(zhǔn)備替代或修復(fù)措施。

二、試驗前確保被試品的安裝要求

a) 確保熱電偶（控制熱電偶）被正確的安裝在測試樣本上，以便于提供參考給試驗箱溫度設(shè)置調(diào)整點。產(chǎn)品的熱電偶必須放置在測試單元的外表面，最好放在低熱量聚集的地方。這些熱電偶不應(yīng)該放置在產(chǎn)生熱量的器件附近或者產(chǎn)品密封部分的內(nèi)部。產(chǎn)品的響應(yīng)熱電偶應(yīng)當(dāng)被安裝在能夠充分評估樣本在溫度環(huán)境下響應(yīng)的位置。建議安裝位置包括產(chǎn)生主要熱量的器件、溫敏器件。

b) 確保安裝在振動臺的測試樣本使用了合適的樣本夾具，從而能夠使得測試樣本獲得的溫度和振動應(yīng)力。產(chǎn)品響應(yīng)加速計應(yīng)該被安裝在能夠充分評估產(chǎn)品對輸出振動響應(yīng)的位置。建議安裝位置：靠近固定硬件、的反饋點（PCB ）或者疑似的薄弱位置。

三、高加速壽命試驗具體試驗項目：

a) 溫度步進(jìn)試驗，包括：低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗和高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗；

b) 快速溫度變化試驗；

c) 振動步進(jìn)試驗；

d) 綜合環(huán)境應(yīng)力試驗；

e) 回歸驗證。

服務(wù)范圍

廣電計量高加速壽命試驗 HALT/HASS測試適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等。對于大型整機,宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級別(如印制電路板組件、子模塊)上進(jìn)行試驗。還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設(shè)計和(或)試產(chǎn)階段,也可用于批量生產(chǎn)階段。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

廣電計量高加速壽命試驗 HALT/HASS測試GB/T 34986—2017/IEC62506:2013 產(chǎn)品加速試驗方法 GB/T 29309-2012 電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗規(guī)程高加速壽命試驗導(dǎo)則 4、檢測項目 電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等產(chǎn)品各研制高加速試驗（HALT/HASS）試驗。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

測試周期

1周~2周

服務(wù)背景

為什么要做此測試？

1、快速發(fā)現(xiàn)設(shè)計及程序的限制因素

2、評估和改良產(chǎn)品設(shè)計極限

3、找到極限(時)統(tǒng)計特色的信息

4、減少研發(fā)時間及成本

5、正式量產(chǎn)前即消除設(shè)計上的問題

5、作為工程工具作為評估改變對產(chǎn)品造成的影響

我們的優(yōu)勢

廣電計量經(jīng)過在軌道交通檢測數(shù)年積累，形成了博士8人、碩士59人的專業(yè)人才團(tuán)隊，各方面研究方向同步業(yè)內(nèi)先進(jìn)研究進(jìn)展，研究設(shè)備均為業(yè)內(nèi)多套設(shè)備（Qualmark公司的Typhoon 4.0 inferno型設(shè)備）。

設(shè)備介紹

Qualmark T4.0是為大型產(chǎn)品的高加速應(yīng)力篩選（HASS）和高加速壽命試驗（HALT）而專門設(shè)計的系統(tǒng)。它的48"x48"振動臺能夠在兩個不同的高度支撐100磅的產(chǎn)品。

高加速試驗箱HALT/HASS

1.Typhoon4.0 Inferno高加速壽命測試及應(yīng)力篩選系統(tǒng)（HALT/HASS）

2.箱體尺寸： 振臺在高位:1366x1372x879mm（W×D×H）

3.振臺在低位:1366x1372x1362mm（W×D×H）試驗溫度范圍：-100℃ ~ +250℃

4.溫變速率： 70℃/min

5.振動范圍： 5-75Grms (5Hz-5000Hz) 接受特別訂做可達(dá)100Grms

6.振動方式：三軸六自由度

7.氣錘數(shù)量：12 個