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超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試

簡要描述:

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程,是驗證設計、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導應?的重要?段。

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更新日期:2024-09-04

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超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試
品牌廣電計量加工定制
服務區(qū)域全國服務周期常規(guī)3-5天
服務類型元器件篩選及失效分析服務資質(zhì)CMA/CNAS認可
證書報告中英文電子/紙質(zhì)報告增值服務可加急檢測
是否可定制是否有發(fā)票

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試服務范圍

處理器、存儲器、AD/DA、接?芯片等?規(guī)模集成電路、適用于各種封裝(DIPSOP、BGA、PGA、QFP、PLCCLCC等)。


超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試檢測標準

l  GJB597A-1996半導體集成電路總規(guī)范

l  GJB2438A-2002混合集成電路通?規(guī)范

l  GJB548B-2005微電子器件試驗?法和程序

l  GJB7243-2011電子元器件篩選技術要求

l  AEC-Q100 STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS

l  MIT-STD-883E TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS

l  JESD22-A108-A Temperature, Bias, and Operating Life


檢測項目

試驗設備

設備能?

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉

系統(tǒng)分區(qū):16 區(qū); I/O通道數(shù):128 路; 信號頻率:100MHz; 向量編程深度:32M; 試驗溫度:-10℃?+125℃(±2℃)。

超大規(guī)模集成電路測試

能進?動態(tài)功能測試、直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試;能進?常溫測試、低溫測試、?溫測試,溫度范圍:-55℃?+150℃ (±2℃);I/O通道數(shù):512路;信號頻率:≥200MHz;可升級; 向量編程深度:64M。


相關資質(zhì)

CNAS


服務背景

在半導體集成電路國產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下,行業(yè)引入了?量新材料、新?藝和新的器件結構,導致集成電路更高的缺陷密度,動態(tài)老煉與測試是保證及提高其可靠性和質(zhì)量?致性的關鍵?法。


我們的優(yōu)勢

l  通過對大規(guī)模集成電路施加特定測試向量(有效測試向量),激勵內(nèi)在缺陷和錯誤形成響應,并通過電應力和熱應力的加速,在短時間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象,并通過測試?段予以剔除,以達到提高?規(guī)模集成電路使?可靠性的?的。

l  超?規(guī)模集成電路測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程,是驗證設計、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導應?的重要?段。特別在集成電路?產(chǎn)后期和使?前期不良率驗證過程中,采?適當?shù)臏y試向量和全?動化的測試設備,可全?快速地識別不良產(chǎn)品,提?產(chǎn)品的交付可靠性。




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